机械密封干涉条纹数量的确定方法是通过光干涉法，使用光学平晶和单色光源(如钠光灯)进行检测‌。具体步骤如下：

　　1.将光学平晶放置在密封端面上，斜上方用钠光灯照射。检查干涉条纹的数量，通过干涉条纹的数量即可确定密封端面的平面度‌

　　2.干涉条纹的数量与平面度有关：

　　平直的条纹表明密封端面的平面度接近光学平晶，平面度最高。

　　弯曲的条纹数量较少时，平面度较好;数量较多时，平面度较差‌

　　3.不同平面度的密封端面会呈现不同类型的干涉条纹：

　　平直的条纹表示平面度最高。

　　弯曲的条纹数量较少时，平面度较好。

　　同心圆状的干涉条纹表示端面内外缘高低差别较大，平面度较差
 

　　密封端面的平面度不同，条纹的种类也不同。图16表示了几种平面度合格的图像，至于不合格的图像各式各样未予绘出。

　　图16a是平直的条纹，表明密封端面的平面度接近光学平晶的平面度，因此这种平面度最高;图16b是弯曲的条纹，干涉条纹数在一条以内，即小于0.3μm;图16c也是弯曲的条纹，干涉条纹数为两条，平面度在0.6μm以内;图16d是同心圆状的干涉条纹，如果是从平板研磨后取下来检验平面度，这说明端面的内缘高，外缘较低，同心圆数量越多，其内外缘高低差别越大。对压力不高的密封不能超过3个同心圆(按平面度0.0009mm控制)，否则密封端面泄漏量过大。在压力较高的平衡型密封中，可能将密封端面推开，因此，如出现同心圆状的条纹，不要超过2个。

　　平面度检验时务必经抛光后才能进行，否则，表面光洁度不够，条纹照射不出来，尤其对石墨环更是这样。此外，平晶和密封环端面要擦干净，不得有水分和灰尘，平晶要精心保管，避免将面擦伤。为了保证检验的精度，还应对平晶定期校验。